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“X光安检图像智能识别系统及关键技术”项目通过科技成果评价
2021.08.25
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2021年8月17日,中科合创(北京)科技成果评价中心组织专家,在北京主持召开了由同方威视技术股份有限公司和清华大学共同完成的“X光安检图像智能识别系统及关键技术”项目科技成果评价会。专家组听取了项目组的汇报,查看了技术报告、测试报告和用户使用报告,观看了产品演示,经质询和讨论,形成如下评价意见:
1.提供的成果评价资料齐全,符合科技成果评价要求。
2.该项目针对多个行业行李包裹安全检查中样本难以获取、姿态多、背景遮挡严重的国际难题,从数据构建、模型生产流程、智能识别方法三个方面突破了各类型禁限品自动探测的关键技术,研制了一套X光安检图像智能识别系统并实现了相关成果应用。主要创新点如下:
(1)提出了基于智能识别算法指导的临界制图方法、基于生成模型的样本增广方法和基于X射线成像物理特性的数据合成方法,解决了图像样本规模和多样性的难题,实现了样本逼真合成。
(2)提出了基于主动学习的算法模型迭代更新方法,形成了自动选择困难样本、自主更新流程的高效学习新范式,实现了对不同场景的有效适配。
(3)提出了融合材料物理属性和双能双视角图像的深度神经网络智能识别方法,发明了违禁液体和固态爆炸物的识别系统,是目前唯一通过中国民航和欧洲民航组织权威认证的系统。
3.X光安检图像智能识别系统目前已在轨道交通、邮政、民航、海关等查验现场广泛使用,显著提升了安全检查的效率和质量。
专家组认为,该项目在X光安检图像智能识别技术方面取得了创新性成果,并具有自主知识产权。综合技术达到国际先进水平,其中基于双能双视角图像的违禁液体和固态爆炸物识别方法国际领先。
专家一致同意通过科技成果评价。
专家组成员
马惠敏 北京科技大学人工智能研究院教授
韦世奎 北京交通大学信息科学研究所教授
赵 巍 北京航空航天大学电子信息工程学院教授
陈 曦 中国科学院自动化研究所研究员
付 莹 北京理工大学计算机学院教授
黄天石 北京市机电研究院高级工程师
郭苑军 中国航天科工集团第二研究院研究员
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